「トライ式AI学習診断」が日経 xTECH EXPO2019で教育AI賞を受賞しました。

日経 xTECH EXPO AWARD 2019 教育AI賞
この度、“教育にデジタル技術を活用するEd-Techの先進事例”として、「トライ式AI学習診断」が「日経 xTECH EXPO AWARD 2019」の「教育AI賞」を受賞しました。「トライ式AI学習診断」は、トライグループとギリア株式会社（ソニーコンピュータサイエンス研究所出資）が共同開発した、全く新しい「診断型」のAI教育サービスです。「トライ式AI学習診断」は、これまでのAI教育サービスのようにつまずきを個別に捉えるのではなく、学力を網羅的に測定することで全体像を把握し、生徒一人ひとりの弱点を総括して診断する解析方法を用います。この解析手法を用いることで、従来と比較して約10分の1の時間で正確な学力把握が可能になりました。「トライ式AI学習診断」により、生徒の学力レベルに関わらず、個人に合った学習計画の組み立てが可能となります。さらに、理系科目に留まらず主要教科すべての学力診断に対応しています。こうした、幅広い学力層の生徒の学習効率を飛躍的に向上させる、革新的な技術とコンセプトが高く評価され、今回の「教育AI賞」受賞に至りました。
「診断型」AIがカバーする領域について
トライグループは、「人は、人が教える。人は、人が育てる。」という企業理念に則り、人によるマンツーマン教育を大切にしながら、最先端のAIテクノロジーを活用することで、「人」と「デジタル」を融合した、これまでにない新たな教育サービスを提供してまいります。
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